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金屬薄片厚度測(cè)試儀

參考價(jià)	￥ 4999
訂貨量	≥1臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱山東普創(chuàng)工業(yè)科技有限公司
品牌Paratronix/普創(chuàng)
型號(hào)PTT-03A
所在地濟(jì)南市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2026/3/25 9:18:33
訪問次數(shù)60

產(chǎn)品標(biāo)簽:

紙張測(cè)厚儀薄膜測(cè)厚儀電池隔膜測(cè)厚儀無(wú)紡布厚度測(cè)試儀接觸式測(cè)厚儀

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聯(lián)系方式：普創(chuàng) 18615268674 查看聯(lián)系方式

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Paratronix普創(chuàng)是一家專業(yè)從事包檢測(cè)理論研究與檢測(cè)硬件開發(fā)并具有獨(dú)立的自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè)。產(chǎn)品廣泛服務(wù)于國(guó)家質(zhì)檢藥檢機(jī)構(gòu)、印刷、包裝、醫(yī)藥、日化、科研院校、食品、醫(yī)藥、化工、新能源、新材料等領(lǐng)域。

Paratronix普創(chuàng)一直以客戶需求為導(dǎo)向堅(jiān)持走自主創(chuàng)新之路，以質(zhì)量和科技技術(shù)行業(yè)發(fā)展為目的。公司以“專注檢測(cè)理論研究，以客戶需求”為價(jià)值中心，矢志不渝的為用戶提供Z可信賴的服務(wù)。

Paratronix普創(chuàng)擁有專業(yè)的技研、銷售團(tuán)隊(duì)，同時(shí)建立了完善的售后服務(wù)體系。以過(guò)硬的產(chǎn)品和用心的服務(wù)贏得國(guó)內(nèi)外廣大用戶的贊譽(yù)。

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	國(guó)產(chǎn)	產(chǎn)品新舊	全新

金屬薄片厚度測(cè)試儀PTT-03A是一款高精度接觸式薄膜、薄片厚度測(cè)量?jī)x器；適用于金屬片、塑料薄膜、薄片、紙張、橡膠、電池隔膜、箔片、無(wú)紡布、土工布、硅片等各種材料的厚度準(zhǔn)確測(cè)量。

金屬薄片厚度測(cè)試儀產(chǎn)品信息

金屬薄片厚度測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

金屬薄片厚度測(cè)試儀PTT-03A是一款高精度接觸式薄膜、薄片厚度測(cè)量?jī)x器；適用于金屬片、塑料薄膜、薄片、紙張、橡膠、電池隔膜、箔片、無(wú)紡布、土工布、硅片等各種材料的厚度準(zhǔn)確測(cè)量。

主要參數(shù)：

參數(shù)	指標(biāo)
測(cè)量范圍	0～2mm(標(biāo)準(zhǔn)) 0～6mm，0～12mm(可選)
分辨率	0.1μm （1μm可選）
測(cè)試速度	1～25次/min
測(cè)量頭平行度	±0.2μm（機(jī)械調(diào)整，量塊校驗(yàn)）
精度	±＜0.3μm
測(cè)量壓力	17.5±1kPa(薄膜)； 100±1kPa(紙張)；其它測(cè)試可定制
接觸面積	平面接觸50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
電源	AC220V50Hz/ AC120V60Hz
外形尺寸	300mm(L)×400mm(W)×435mm(H)
約凈重	30Kg

產(chǎn)品特征：

●測(cè)頭采用標(biāo)準(zhǔn)M2.5螺紋連接方式，可連接各種形式百分表，千分表表頭進(jìn)行測(cè)量；

●可拆卸螺紋連接配重塊，可滿足各種標(biāo)準(zhǔn)要求及非標(biāo)壓力定制；

●嵌入式高速微電腦芯片控制，簡(jiǎn)潔高效的人機(jī)交互界面，為用戶提供舒適流暢的操作體驗(yàn)

●標(biāo)準(zhǔn)化，模塊化，系列化的設(shè)計(jì)理念，可最大限度的滿足用戶的個(gè)性化需求

●觸控屏操作界面亦可連接電腦操作，連接自動(dòng)進(jìn)樣器和數(shù)據(jù)綜合處理

●7寸高清彩色液晶屏，實(shí)時(shí)顯示測(cè)試數(shù)據(jù)及曲線

●進(jìn)口高速高精度采樣芯片，有效保證測(cè)試準(zhǔn)確性與實(shí)時(shí)性

●內(nèi)置微型打印機(jī)，可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)歷史數(shù)據(jù)打印功能

●標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸

●嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制

●高精度測(cè)厚傳感器，精度高重現(xiàn)性好

●可采用標(biāo)準(zhǔn)厚度計(jì)量工具標(biāo)定、檢驗(yàn)

●多種測(cè)試量程可選

●實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的最大值、最小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷

金屬薄片厚度測(cè)試儀

測(cè)試原理：

將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上，與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702