解讀國標，一文理清順序掃描和全譜直讀ICP-OES

近期小編發現有從事稀土分析的老師就《GB/T 17417.1 - 2010稀土礦石化學分析方法 第1部分：稀土分量測定》和《GB/T 17417.2 - 2010稀土礦石化學分析方法 第2部分：鈧量測定》兩份標準中，提到的順序掃描型電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP - OES），咨詢如何區分ICP - OES的類型。

隨著科技的進步，大量商品化的電感耦合等離子體發射光譜儀呈現百花齊放的技術發展路線。今天和大家一起解讀《GB/T36244 - 2018電感耦合等離子體原子發射光譜儀》，了解在國標體系中ICP - OES的分類。

《GB/T36244 - 2018電感耦合等離子體原子發射光譜儀》該標準是2018年11月1日生效的，該標準旨在規定電感耦合等離子體原子發射光譜儀的定義、組成和分類、要求、試驗方法等。而前文提到的兩個稀土礦石化學分析方法均在2011年2月1日實施，且旨在提供行業的分析方法。

因此GB/T36244 - 2018對于ICP - OES的分類更具，且發布時間更新，更能真實的反應現在商品化ICP - OES的技術。那么我們來詳細解讀該標準。

順序掃描電感耦合等離子體原子發射光譜儀定義

從色散元件（如棱鏡、光柵等）的狀態，“順序掃描電感耦合等離子體原子發射光譜儀”的定義是：通過旋轉色散元件得到譜線的儀器。

全譜直讀電感耦合等離子體原子發射光譜儀定義

從檢測器的角度，“全譜直讀電感耦合等離子體原子發射光譜儀”的定義是：通過CCD、CID、CMOS等陣列式檢測器一次性讀取光譜的儀器。

可以清晰地看到，兩種分類是根據ICP - OES不同的部件進行的。

耶拿超高分辨率Plasma Quant 9100Elite的光學系統由棱鏡 + 中階梯光柵構成兩級色散，在分析過程中，中階梯光柵發生轉動，符合“順序掃描電感耦合等離子體原子發射光譜儀”的定義；同時儀器配置高靈敏度的CCD陣列檢測器，快速獲取樣品譜圖，符合“全譜直讀電感耦合等離子體原子發射光譜儀”的定義。

因此Plasma Quant 9100Elite符合《GB/T 17417.1 - 2010稀土礦石化學分析方法 第1部分：稀土分量測定》和《GB/T 17417.2 - 2010稀土礦石化學分析方法 第2部分：鈧量測定》的要求。

此時客戶又提出擔心，分析過程中光柵轉動是否會影響儀器的重復性？國標GB/T36244 - 2018中要求儀器重復性≤1.5%、穩定性≤2.0%（間隔15分鐘，重復9次測量）。Plasma Quant 9100Elite這兩項的性能分別為≤0.3%、≤1.0%（7小時），位于行業水平，遠遠優于國標要求。

作為新一代技術的突出代表，Plasma Quant 9100Elite將兩種科技有機結合，平衡了光學分辨率與分析速度，提供光學分辨率3pm@200nm。此外儀器還具有極優異的穩定性。在稀土分析中實現“又快又準又穩”的效果。

分辨率舉例：

重復性 (1ppm)：≤0.3%

穩定性(7Hr)：≤1%